Novi NI SMU – povećana brzina, broj kanala i fleksibilnost

National Instruments je danas predstavio NI PXIe-4139 SMU (Source Measurement Unit), novi uređaj visokih performansi u SMU portfoliu kompanije. Ovaj SMU može da smanji ukupne troškove i skrati vreme testiranja u širokom spektru industrija, od proizvodnje poluprovodničkih komponenata do automobilske i industrije potrošačke elektronike.

 “Sa NI PXIe-4139, inženjeri i naučnici su dobili široke UI granice, uključujući prošireni opseg do 500W u pulsnom režimu, kao i osetljivost do100 fA.”, rekao je Luka Schreier, senior menadžer sektora za test sisteme u National Instruments-u. “Kompaktna veličina NI PXIe-4139 je takođe značajna jer smanjuje veličinu uređaja u poređenju sa tradicionalnim SMU uređajima.”

 

 NI PXIe-4139 poseduje NI SourceAdapt tehnologiju, koja omogućava inženjerima da proizvedu optimalne SMU odzive na bilo koje opterećenje prilagođenjem SMU kontrolnih petlji. Ova tehnologija štiti uređaje koji se testiraju i poboljšava stabilnost sistema. Pored toga, NI PXIe-4139 SMU može da vrši merenje na 1,8 MS/s, što je 100 puta brže od brzine koja se može postići sa tradicionalnim SMU. Ovo smanjuje vreme testiranja i nudi inženjerima mogućnost da detektuju ponašanje uređaja u prelaznim režimima bez potrebe za dodatnim osciloskopom.

 “Redefinisan pristup ka instrumentaciji je neophodan ako želite da održite korak sa povećanjem složenosti moderne elektronike”, rekao je Schreier. “SourceAdapt tehnologija, zajedno sa inherentnim prednostima PXI modularnih instrumenata i NI LabVIEW softverom za dizajniranje sistema, smanjuje vremena testiranja i štiti uređaje koji se testiraju.”

 Ključne karakteristike:

• 100 fA osetljivosti merenja struje: Precizno karakterisanje poluprovodničkih uređaja visokih performansi.
• 1.8 MS/s brzina odabiranja: Detektovanje prelaznih karakteristika uređaja bez upotrebe osciloskopa
• Do 17 SMU kanala u 4U 19-oinčnom prostoru : Smanjuje veličinu testnih sistema u sistemima sa velikim brojem kanala
• SourceAdapt tehnologija: Smanjenje prelaznih vremena uz poboljšanje sveukupnog vremena testiranja i zaštita uređaja koji se testiraju od proboja i oscilacija, čak i na induktivnim ili kapacitivnim opterećenjima.

 Da biste saznali više o NI SMU uređajima, posetite www.ni.com/smu .